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검사용 소켓

실험

POGO Pin Type Test Socket

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  • 내구성 및 전기적 성능 특성의 장점.

  • uBGA를 포함한 다양한 종류의 IC 패키지와 호환

  • 긴 수명 주기(100,000 ~ 500,000회 삽입)

  • 손쉬운 교체

  • 기계적인 변경 없이 직접 교체 가능

  • 거의 투명한 신호 통과

  • 미세 피치 접점 사용 가능                                       (0.4 / 0.5 / 0.65 / 0.8 / 1.0 / 1.27mm)

  • 전류 정격 : 2A 연속

  • 접점 저항 : 0.1Ω (AVE) 미만

Metal Pin Type Test Socket

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  • 200개의 금속 핀이 0.2mm 간격으로 정렬되어있는        실리콘 패드가 적용 된 0.3mm Stroke에서 6kg 이하의  하중을 갖는  수직 프로빙 구조의 테스트 소켓

  • 블래이드 핀 공차 : ±10㎛

  • 저항 :  50mΩ 이하

  • 수명 : 10K 이상

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